離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經過長時間的測試（1 ～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。（ ION MIGRATION TESTING ）
在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
適用規格 ： JPCA- - ET01- - 2001
產品優勢
簡單/便利
△采用高端驅動計測，測試時焊接工序大幅減少。
△軟件設計簡單明了，能夠非常直觀得操作。
△配有過程中的記錄、報告相關的報表功能。
△測試中，設備可以單獨運行，電腦電源切斷也不受影響。
高性能&高機能
△因為每個通道都單獨配有電壓/計測電路，可以做到16ms的計測間隔。
→遷移現象的檢測能力更高，對產品品質把控更精準。
△一臺電腦最大可以增設400通道。
△每個通道可以設定不同的電壓。
可靠性更高&操作更簡潔
△具有自身診斷機能，把異常計測防范于未然。
△配有CF卡，以防設備故障數據丟失。
△每個單元獨立，其中一個單元損壞，可以單獨拆卸維修，而不影響其他通道使用。
△標準配置也可以接入1~300V的電壓范圍。
用途
△PCB板、焊接、樹脂、導電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。
△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置，可以在多領域利用。
實例
△測試難度大的高阻值也能除去干擾，清晰得進行測試。
△16msec的高速抽樣處理，不會漏掉任何一個數據。
△電容器等絕緣電阻的試驗也非常合適。
產品關鍵詞：離子遷移測試、CAF測試、絕緣電阻值檢測、離子遷移檢測設備、CAF設備、CAF試驗、CAF測試方法、Conductive Anode Filaments
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